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1391708 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
A remoção de fotorresiste por plasma (Ashing) é realizada utilizando descarga em quais gases?
 

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Considere as seguintes afirmações acerca da ITIL v3:
I. O livro Melhoria contínua está diretamente relacionado ao fato de que, sob as mesmas condições, a TI irá procurar sempre oferecer um serviço mais eficaz, ou seja, fazer a mesma coisa com menos recursos e mais eficiente, ou seja, fazer o que precisa ser feito para atingir as metas da empresa.
II. Os processos do livro Transição de serviço têm como função principal planejar e executar as ações necessárias para entregar serviços de acordo com as suas especificações. Assim, suas entradas são originadas, principalmente, nos processos do livro Desenho do serviço. Já as suas saídas são direcionadas, principalmente, para os processos do livro Operação do serviço, que terão como função manter a operação dos serviços para atender as necessidades dos usuários.
III. O livro Estratégia do serviço possui foco mais voltado para o ciclo de vida e está no centro do alinhamento estratégico dos serviços para deixar clara a ideia da necessidade de direcionar e justificar todo o investimento feito no provimento de serviços de TI.
IV. Os processos do livro Operação do serviço têm como função principal a manutenção da operação dos serviços, de acordo com as necessidades dos usuários. Assim, suas entradas são originadas, principalmente, nos processos do livro Transição do serviço. Já as suas saídas são direcionadas, principalmente, para os processos do livro Estratégia do serviço, que terão como função garantir que a operação está agregando valor a um custo que pode ser justificado e suportado pelo negócio.
É correta apenas a alternativa
 

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1391666 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
I. Em verificação de caixa preta (“black-box verification”), a verificação funcional é realizada sem conhecimento da implementação do RTL.
II. Em verificação de caixa branca (“white-box verification”), a verificação funcional é realizada tendo visibilidade completa do projeto digital implementado.
Sobre as afirmações acima, pode-se dizer que:
 

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1391655 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
Maior anisotropia na corrosão de Si por plasma é obtida em misturas de gases com inclusão de gases:
 

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1391646 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
Controlar os defeitos gerados na lâmina é mais crítico para dispositivos/circuitos com menores características de tamanho, alta densidade e em lâminas maiores. Dessa forma, a indústria eletrônica tem investido cada vez mais em minimizar os defeitos na máscara. Isso porque os defeitos em uma máscara/retículo acabam causando defeitos na lâmina (substrato) ou desvio de padrão. Um dos defeitos comuns que ocorrem na máscara/retículo é a contaminação com sujeira ou manchas na parte clara da máscara/retículo. Em óptica litográfica, esses defeitos podem ter a seguinte consequência:
 

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1391611 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
Dado o circuito lógico abaixo onde A, B e C são suas entradas primárias e G sua saída primária, qual dos vetores de teste abaixo detectam uma falha do tipo “stuck-at 0” em E.
Enunciado 1391611-1
 

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1391598 Ano: 2012
Disciplina: Administração Geral
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
Na reunião de iniciação de contrato para alinhamento de expectativas, após a imprescindível publicação resumida do instrumento de contrato assinado, o fiscalizador do contrato deve reunir todos os atores que desempenhem papéis relevantes na contratação para:
1) Verificar a compreensão do objetivo, do objeto, do modelo de prestação de serviços, do modelo de gestão, das obrigações e das penalidades.
2) Realizar um cotejamento do edital, do contrato e dos termos da proposta vencedora.
3) Dar ênfase na necessidade de manutenção das condições habilitatórias e da proposta técnica.
4) Promover a confirmação de cronogramas, das etapas e do faturamento.
Marque a resposta certa.
 

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1391574 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
Observe as afirmativas abaixo.
I – A amostra sob análise é submetida a um bombardeamento por um feixe de íons.
II – A amostra analisada é submetida a um feixe de elétrons.
III – Pode ser realizada em analisadores de massa de tempo de voo.
IV – Baseia-se na radiação emitida pela amostra após interagir com o feixe de raio-X.
As sentenças que se referem à espectrometria de massa por íons secundários são expressas na alternativa
 

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1391566 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
Tendo em vista o fluxo de implementação de um projeto digital de um Circuito Integrado de Aplicação Específica (ASIC – “Application Specific Integrated Circuit”), pode-se afirmar que o processo de “Floorplanning
 

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A chave de registro KLM\SYSTEM\CurrentControlSet\Services\BITS, no Windows Server 2008
 

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