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Foram encontradas 160 questões.

91903 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

A figura a seguir mostra um diagrama de difração de elétrons obtido de uma amostra policristalina de ouro depositada em um filme plástico.

Enunciado 3545757-1

Sabendo que o comprimento da câmara (distância entre a amostra e o filme fotográfico) é igual a 1.100 mm e que o comprimento de onda da radiação utilizada é igual a 0,00472 nm, o valor da distância interplanar para o anel de maior intensidade, de diâmetro 44 mm, em nm, é igual a

 

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91902 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

Até mesmo os sistemas de MET mais simples podem gerar perfis de difração, a partir da interação do feixe de elétrons com a amostra. A análise desses difratogramas tem sido cada vez mais utilizada para interpretação e elucidação da estrutura dos materiais e, com grande vantagem, permite uma investigação microestrutural, mesmo em caso de amostras com dimensões mais reduzidas. A respeito da difração eletrônica, assinale a opção correta.

 

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91901 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

Com relação à MET de alta resolução, assinale a opção correta.

 

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91900 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

As técnicas de MET e MEV de alta resolução são muito empregadas na análise topográfica, morfológica e estrutural de materiais com dimensões nanométricas. As figuras a seguir são exemplos de imagens obtidas por essas técnicas.

Enunciado 3545754-1

Imagem I: diferentes morfologias para cristais de carbono de cálcio.

Internet: <web.bgu.ac.il/Eng/Centers/nano/labs/emu/Gallery.htm>.

Enunciado 3545754-2

Imagem II: visão ampliada para ouro nanoparticulado.

Internet:<crysta.physik.hu-berlin.de>.

A partir da observação dessas figuras, é correto inferir que as imagens I e II foram obtidas, respectivamente, por

 

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91899 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

Na microscopia eletrônica, o canhão de elétrons é formado por um conjunto de componentes cuja finalidade é a produção dos elétrons e a sua aceleração para o interior da coluna. Esse feixe de elétrons deve ser estável e com intensidade suficiente para que, ao atingir a amostra, possa produzir um bom sinal. Acerca dessas fontes de elétrons usadas em microscopia eletrônica, assinale a opção correta.

 

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91898 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

Texto para a questão

Análise química em microscopia eletrônica é um dos mais importantes instrumentos para investigar materiais orgânicos e inorgânicos. Essa técnica oferece grande vantagem, já que por meio da identificação dos raios X emitidos pela amostra, quando da interação com o feixe eletrônico, é possível determinar a composição de regiões microscópicas da amostra.

Ainda acerca da técnica descrita no texto e na MET, as lentes que formam, ampliam e focalizam a primeira imagem da amostra são lentes

 

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91897 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

Texto para a questão

Análise química em microscopia eletrônica é um dos mais importantes instrumentos para investigar materiais orgânicos e inorgânicos. Essa técnica oferece grande vantagem, já que por meio da identificação dos raios X emitidos pela amostra, quando da interação com o feixe eletrônico, é possível determinar a composição de regiões microscópicas da amostra.

Acerca da técnica descrita no texto, assinale a opção correta.

 

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91896 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

A incorporação de nanomateriais em polímeros possibilita otimizar algumas propriedades poliméricas e, ainda, adicionar outras características antes não encontradas nessas macromoléculas. Nessa direção, nanopartículas de prata com dimensões de 5 nm a 10 nm têm sido incorporadas em filmes de polipropileno, visando construir embalagens plásticas mais resistentes e com propriedades antimicrobianas. Para se observar a morfologia e o tamanho das nanopartículas de prata antes da sua inserção no polímero, e a morfologia, rugosidade e porosidade dos polímeros modificados com as nanopartículas, as técnicas de microscopia mais indicadas são, respectivamente,

 

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91895 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

Acerca da MEV e dos componentes básicos do equipamento utilizado nesse tipo de microscopia, assinale a opção correta.

 

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91894 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

Na MEV, a interação do feixe de elétrons com a superfície da amostra produz uma série de radiações emitidas que, quando captadas corretamente, irão fornecer informações características sobre a amostra. Acerca da MEV, assinale a opção correta.

 

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