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A difração de raios X é uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais, tendo grande aplicação em campos como geologia e ciência dos materiais. Julgue os próximos itens, relacionados à geração e à difração de raios X.
Uma amostra cristalina sob tensão uniforme terá os seus picos de difração deslocados em relação àqueles de uma amostra não sujeita a tensões.
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A difração de raios X é uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais, tendo grande aplicação em campos como geologia e ciência dos materiais. Julgue os próximos itens, relacionados à geração e à difração de raios X.
A difração de raios X obtida pela técnica de Debye-Scherrer exige o uso de um feixe de raios X policromáticos.
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A difração de raios X é uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais, tendo grande aplicação em campos como geologia e ciência dos materiais. Julgue os próximos itens, relacionados à geração e à difração de raios X.
Na técnica de Laue de difração de raios X, a amostra deve estar na forma de pó.
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A difração de raios X é uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais, tendo grande aplicação em campos como geologia e ciência dos materiais. Julgue os próximos itens, relacionados à geração e à difração de raios X.
O comprimento de onda mínimo no espectro de raios X gerados em um tubo comercial é inversamente proporcional à voltagem de aceleração dos elétrons.
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A difração de raios X é uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais, tendo grande aplicação em campos como geologia e ciência dos materiais. Julgue os próximos itens, relacionados à geração e à difração de raios X.
É possível gerar raios X fazendo com que um feixe de elétrons com energia cinética da ordem de dezenas de keV incida sobre um alvo metálico.
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Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.
O princípio de funcionamento do AFM é a medida das deflexões da ponta de prova do microscópio enquanto essa ponta varre a superfície da amostra sob análise.
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Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.
No STM, é possível obter informações a partir da corrente elétrica que flui entre a ponta de prova do microscópio e a amostra.
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Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.
A formação de imagem no MEV depende fundamentalmente do número de neutrinos emitidos pela amostra quando o feixe primário incide sobre ela.
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Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.
Um mecanismo de contraste possível na imagem formada por elétrons retroespalhados em um MEV é o contraste de composição.
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Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.
As lentes do MET são feitas de material semicondutor, geralmente silício, e, portanto, não apresentam aberrações.
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