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Foram encontradas 1.834 questões.

1396970 Ano: 2012
Disciplina: Direito Administrativo
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC

Prazo máximo de suspensão temporária de participação em licitação e impedimento de contratar com a Administração, nos termos da Lei n. 8.666/93, é de:

 

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1396967 Ano: 2012
Disciplina: Comunicação Social
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
A publicação organizacional cuja periodicidade apresenta intervalos mais espaçados entre as edições, sem informações urgentes e imediatas, denomina-se
 

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Com relação aos direitos garantidos pela Constituição Federal ao servidor público, pode-se afirmar que

 

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Com relação às funções de confiança na Administração Pública, nos termos da Constituição Federal, pode-se afirmar que

 

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1396833 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
No controle por atributos num sistema de controle e garantia da qualidade das especificações de produtos para um empreendimento da indústria eletrônica, podem ser detectados os seguintes defeitos:
1) Os que impedem funcionamento do serviço ou do componente eletrônico e são denominados defeitos críticos.
2) Os principais são os que podem impedir o funcionamento do componente a curto ou longo prazo, sem serem caracterizados como defeitos críticos.
3) Os secundários são os que não impedem o funcionamento do componente, mas não permitem que esse cumpra totalmente os requisitos especificados.
Quantos desses defeitos estão corretamente indicados?
 

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1396828 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Elétrica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
Algumas precauções devem ser tomadas nas instalações de tubulações submetidas a temperaturas elevadas devido ao efeito da dilatação. Considerando a constante de dilatação térmica do aço-carbono igual a 0,0126 mm/(m.ºC), qual é a dilatação observada em uma tubulação de aço-carbono de 50 m de comprimento com vapor a 200ºC acima da temperatura ambiente?
 

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1396804 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
São características extraídas dos transistores MOS:
 

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1396771 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
A figura a seguir mostra um corte em seção transversal de um dispositivo semicondutor. Esse dispositivo é um:
Enunciado 1396771-1
 

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1396767 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
A oxidação térmica do silício tem como finalidade
I – formar máscaras que impedem a implantação iônica e a difusão de dopante no silício (Si).
II – auxiliar na conexão de circuitos, dada a alta condutividade do dióxido de silício (SiO2).
III – a passivação da superfície do wafer.
Assinale a alternativa correta.
 

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Qual o critério que não se aplica para a seleção de bons fornecedores?
 

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