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3063043 Ano: 2024
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INPI

Julgue os próximos itens, a respeito de sistemas de controle.

Para uma caracterização correta do sistema na modelagem no espaço de estados, é necessário que as variáveis de estado sejam quantidades fisicamente observáveis ou mensuráveis.

 

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3063041 Ano: 2024
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INPI

Considerando que, em um sistema de aquisição e processamento de dados, um sinal unidimensional seja amostrado na frequência de 200 Hz, julgue os itens a seguir.

Ao se processar o sinal por meio da equação de diferenças !$ y\left(n\right)=\dfrac{x\left(n\right)-x\left(n-1\right)}{200}, !$ o sinal de saída !$ y(n) !$ corresponderá a uma aproximação da integral do sinal de entrada !$ x(n) !$.

 

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3063040 Ano: 2024
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INPI

Considerando que, em um sistema de aquisição e processamento de dados, um sinal unidimensional seja amostrado na frequência de 200 Hz, julgue os itens a seguir.

Se o sistema processar o sinal usando a equação de diferenças !$ y\left(n\right)=\dfrac{x\left(n\right)-x\left(n-1\right)-y\left(n-1\right)}{200}, !$ então a função de transferência correspondente a essa equação, no domínio z, será !$ H\left(z\right)=\dfrac{1-z^{-1}}{200+z^{-1}}. !$

 

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3063021 Ano: 2024
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INPI

Em relação à resposta às funções singulares, julgue os itens subsequentes.

A resposta a um degrau de um circuito será definida como comportamento quando a excitação desse circuito for uma função do tipo degrau, o que ocorre apenas para fonte de corrente.

 

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3063020 Ano: 2024
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INPI

Em relação à resposta às funções singulares, julgue os itens subsequentes.

Quando uma função que varia no tempo é integrada com a função impulso, obtém-se o valor da função no instante em que ocorre o impulso.

 

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3063017 Ano: 2024
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INPI

Com relação a técnicas de análise de circuitos e à teoria de circuitos CC e CA, julgue os itens a seguir.

A função degrau unitário pode representar o chaveamento de fontes de corrente contínua no momento em que a fonte é acionada.

 

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3063012 Ano: 2024
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INPI

Acerca de instrumentos utilizados em sistemas de telecomunicações e eletrônicos, julgue os itens a seguir.

Para minimizar a interferência das pontas de prova de um osciloscópio, é correto elevar a resistência de entrada do osciloscópio de 10 MΩ para 100 MΩ, o que significa uma atenuação de dez vezes no sinal detectado pela ponta de prova.

 

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3063011 Ano: 2024
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INPI

Acerca de instrumentos utilizados em sistemas de telecomunicações e eletrônicos, julgue os itens a seguir.

O analisador de espectro permite visualizar a forma de onda de sinais modulados, essenciais para compreender a transmissão de dados através de cabos coaxiais e fios de par trançado, sendo útil apenas na análise de sistemas de comunicação via cabo.

 

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3063010 Ano: 2024
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INPI

Acerca de instrumentos utilizados em sistemas de telecomunicações e eletrônicos, julgue os itens a seguir.

O analisador de rede é capaz de medir diversas características de transferência, como resposta em frequência, perda de retorno, perda de conversão e ganho versus frequência; ele permite uma análise detalhada das propriedades de um sistema, identificando como o sistema responde a diferentes estímulos em várias frequências.

 

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3063009 Ano: 2024
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INPI

Acerca de instrumentos utilizados em sistemas de telecomunicações e eletrônicos, julgue os itens a seguir.

O gerador de funções é um dispositivo que fornece uma variedade de formas de onda controladas, para serem utilizadas na avaliação e verificação de desempenho de um equipamento sob teste.

 

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