Para se calcular a corrente de tunelamento em microscopia de varredura de tunelamento e, consequentemente, formar a imagem ou determinar o espectro de densidade de estados, é necessário conhecer as funções de onda dos elétrons da superfície da amostra e da ponta de prova. Porém, poucas vezes se pode tirar vantagem de algum argumento de simetria com relação à ponta de prova. Na maior parte das vezes, é necessário fazer alguma aproximação para se obter a seguinte relação para a corrente de tunelamento I:

!$ I \infty \underset{V}{\sum} | \psi ( \vec{r}_t)^2|^2\,\delta (E_V - E_F) = \rho ( \vec{r}_t, E_F) !$em que V é o potencial aplicado entre a ponta de prova e a amostra, E_V é a energia dos elétrons nível de Fermi da ponta de prova, E_F é a energia do nível de Fermi da superfície da amostra e !$ \rho ( r_p ,E_F) !$ é a densidade de estados em E_F. Com base nessas informações, é correto afirmar que