Em medidas de microscopia de tunelamento de varredura, é possível determinar a corrente de tunelamento I em função da posição da ponta de prova, mapear !$ { \large dI \over dV} !$ no espaço real e coletar o espectro de !$ { \large dI \over dV} !$ em função do potencial V aplicado. A respeito desse assunto, é correto afirmar que