Um tipo de defeito encontrado em materiais cerâmicos do tipo AX, composto por um par que representa uma lacuna de cátion e uma lacuna de ânion, é dito:

Dentre as opções a seguir, assinale aquela que descreve as quatro operações de conformação que são utilizadas para dar forma a ligas metálicas.

O termo “Fluência” no estudo de propriedades dos materiais cerâmicos pode ser entendido como a deformação lenta que ocorre nos materiais submetidos ao carregamento estático, sob altas temperaturas.

Sendo assim, é correto afirmar que:

A tensão residual em um material estrutural é resultado de vários processos de fabricação que introduzem no material uma tensão elástica interna, mesmo na ausência de carregamentos externos ou gradientes de temperatura.

Assinale a alternativa correta.

A análise e prevenção de falhas são componentes importantes na caracterização de materiais para aplicação em engenharia. Métodos sistemáticos estabelecidos para a análise de falhas permitem identificar um amplo espectro de modos de falhas.

Considerando uma falha por fadiga, é correto afirmar que:

A figura a seguir representa um ensaio típico de tensão deformação em dois materiais com comportamento mecânico distintos.

Analisando as curvas com base em conhecimentos relacionados às propriedades mecânicas dos materiais e ensaios de caracterização, é correto afirmar que:

No desenvolvimento de capacitores é imprescindível que um bom material dielétrico seja empregado. O material dielétrico, além de proporcionar um meio mecânico para separar os condutores carregados, como por exemplo duas placas metálicas paralelas, atua também para aumentar a rigidez dielétrico do meio e aumentando a capacitância do sistema.

Com relação a materiais dielétricos, é correto afirmar que:

A figura a seguir ilustra uma célula unitária do tipo Cúbica de Face Centrada (FCC).

Um dos parâmetros mais importantes no estudo da microestrutura de um material é o fator de empacotamento atômico. No caso da figura, é possível verificar que o FCC assume um valor de:

A distância interplanar de dois planos atômicos paralelos em um cristal pode ser determinada conhecendo-se os índices de Miller e os parâmetros de rede. A distância entre planos com índices de Miller (hkl) de (211) em um sistema cúbico de corpo centrado com parâmetro de rede de 0,2866 nm, seria aproximadamente:

É importante conhecer a curva característica para o correto dimensionamento de uma bomba centrífuga. As curvas características são obtidas pelos fabricantes e traduzem o funcionamento das bombas em representações gráficas, contendo as alturas manométricas (H) e as vazões (Q). Na figura abaixo, a altura manométrica varia muito pouco com a vazão.

Está figura a representa uma curva característica de qual tipo?