Foram encontradas 60 questões.
Para a análise de EDS, a razão entre a energia do feixe primário e a energia de excitação do elemento é conhecida como overvoltage. Como regra geral, a overvoltage deve ser
Provas
Os elétrons do feixe eletrônico, ao atingirem a superfície de uma amostra irão interagir com os átomos dela. A profundidade de penetração dos elétrons depende
Provas
A resolução de imagem obtida com o microscópio eletrônico de varredura depende de uma série de fatores. Dentre eles, o mais importante é
Provas
Uma das principais aberrações das lentes eletromagnéticas, que ocorre quando a trajetória dos elétrons que estão mais distantes do centro do eixo ótico é muito mais defletida pelo campo magnético do que a trajetória dos elétrons próximos ao centro, é
Provas
Quando há uma alteração da distância de trabalho (WD), que é a distância entre a superfície da amostra e a parte inferior da lente objetiva, tem-se uma perda de foco. A focagem correta pode ser obtida
Provas
Para que uma fonte de elétrons seja considerada uma boa fonte, alguns parâmetros devem ser considerados. Assinale a alternativa que contém o parâmetro mais adequado para caracterizar o desempenho de uma fonte.
Provas
Tornar o feixe eletrônico divergente em um feixe o mais fino possível e focado na superfície da amostra é a função
Provas
Assinale a alternativa que melhor justifica a utilização do tungstênio como material do filamento.
Provas
Denomina-se “emissão termoiônica” a propriedade comum a todos os metais de
Provas
Nos microscópios, o modelo mais utilizado de canhão de elétrons é formado por
Provas
Caderno Container