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O fluxo de projeto de um sistema integrado envolve diferentes etapas. Diferentes classes de projeto (analógico ou digital, full-custom ou standard cell) exigem um conjunto diferente de etapas. A respeito das etapas de projeto e de verificação, julgue os itens seguintes.
Denomina-se especificação funcional ao nível mais detalhado de especificação do sistema, no qual todos os parâmetros lógicos e elétricos devem ser estabelecidos com margens estritas.
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O fluxo de projeto de um sistema integrado envolve diferentes etapas. Diferentes classes de projeto (analógico ou digital, full-custom ou standard cell) exigem um conjunto diferente de etapas. A respeito das etapas de projeto e de verificação, julgue os itens seguintes.
Um conjunto de máscaras que não viola nenhuma limitação geométrica de fabricação ainda pode estar errado, no sentido de não efetivamente implementar a funcionalidade que se imaginava. Nesse caso, o LVS (layout versus schematic) não poderá acusar o erro, mas talvez o DRC possa.
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O fluxo de projeto de um sistema integrado envolve diferentes etapas. Diferentes classes de projeto (analógico ou digital, full-custom ou standard cell) exigem um conjunto diferente de etapas. A respeito das etapas de projeto e de verificação, julgue os itens seguintes.
Quando um sistema de modo misto é implementado usandose tecnologia originalmente prevista para circuitos digitais, ou quando se procura fabricar fotodetetores aproveitando características dessa tecnologia, a otimização de certas estruturas pode requerer a violação intencional de regras de projeto. Nesses casos, o fabricante deve ser informado.
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O fluxo de projeto de um sistema integrado envolve diferentes etapas. Diferentes classes de projeto (analógico ou digital, full-custom ou standard cell) exigem um conjunto diferente de etapas. A respeito das etapas de projeto e de verificação, julgue os itens seguintes.
As regras de projeto, checadas na DRC (design rule check), são definidas pela equipe de projetistas quando conhecidas as especificações detalhadas do sistema a ser projetado. Elas estabelecem a nomenclatura dos sinais nos diversos módulos, seu caráter ativo-alto ou ativo-baixo e os máximos atrasos aceitáveis para a saída.
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Para procurar garantir a testabilidade de sistemas integrados, neles são incluídas estruturas com o propósito específico de facilitar a controlabilidade e observabilidade dos nós internos. Com relação a essas estruturas, julgue os itens a seguir.
Em alguns casos, as células de scan não são ligadas em cadeia; suas entradas de teste podem ser independentemente acessadas. A maior vantagem, nesse caso, é a diminuição do overhead de interconexão para o teste.
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Para procurar garantir a testabilidade de sistemas integrados, neles são incluídas estruturas com o propósito específico de facilitar a controlabilidade e observabilidade dos nós internos. Com relação a essas estruturas, julgue os itens a seguir.
Na célula de scan mais usada, seleciona-se, por meio de um multiplexador, se a entrada do elemento de armazenamento vem da operação normal do circuito ou de uma entrada de teste. Essa configuração tem a vantagem de não alterar a operação normal de circuito, nem introduzir atrasos adicionais.
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Para procurar garantir a testabilidade de sistemas integrados, neles são incluídas estruturas com o propósito específico de facilitar a controlabilidade e observabilidade dos nós internos. Com relação a essas estruturas, julgue os itens a seguir.
A técnica de cadeias de scan consiste em conectar os elementos de armazenamento, formando um registrador de deslocamento controlável por sinais adicionais de teste.
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Para procurar garantir a testabilidade de sistemas integrados, neles são incluídas estruturas com o propósito específico de facilitar a controlabilidade e observabilidade dos nós internos. Com relação a essas estruturas, julgue os itens a seguir.
Em uma técnica ad hoc para aumentar a testabilidade combinacional dos nós, incluem-se pontos de observação (ou pontos de teste), conectando nós internos do circuito diretamente à saída. Uma das técnicas para diminuir o número total de pontos de observação consiste em combinar múltiplos nós internos com uma rede de portas XOR.
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Ao final dos anos 70 do século passado, conceitos oriundos originalmente da área de controle, tais como controlabilidade e observabilidade, passaram a ser empregados no contexto de sistemas digitais, na tentativa de estudar de forma sistemática a testabilidade de complexos sistemas integrados. Em particular, as definições oriundas do projeto SCOAP (Sandia Controllability/Observability Analysis Program) são freqüentemente utilizadas. Acerca desse assunto, julgue os itens seguintes.
Em um circuito digital com uma porta AND e uma porta OR, ambas recebendo as mesmas entradas, à saída da porta AND, deverá ser atribuído um valor menor de 1-controlabilidade (ou controlabilidade para o nível 1) do que a saída da porta OR.
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Ao final dos anos 70 do século passado, conceitos oriundos originalmente da área de controle, tais como controlabilidade e observabilidade, passaram a ser empregados no contexto de sistemas digitais, na tentativa de estudar de forma sistemática a testabilidade de complexos sistemas integrados. Em particular, as definições oriundas do projeto SCOAP (Sandia Controllability/Observability Analysis Program) são freqüentemente utilizadas. Acerca desse assunto, julgue os itens seguintes.
A medida de observabilidade combinacional de um nó reflete a dificuldade de propagar o valor lógico do nó até uma das saídas do sistema. Essa medida tem um valor baixo nas saídas de um sistema digital, e seu valor tende a aumentar para os nós internos e as entradas.
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