Durante a obtenção de imagens por microscopia eletrônica, ocorre a interação do feixe de elétrons com a amostra, o que promove o surgimento de diversos fenômenos. O fenômeno relacionado à interação do feixe de elétrons com o material observado por microscopia eletrônica e que é utilizado na espectroscopia de perda de energia de elétrons (EELS) é