Nas análises por EELS, o material deve apresentar a maior espessura suportada pela microscopia eletrônica de transmissão. Em regiões espessas, o espalhamento dos elétrons é único, o que melhora a sensibilidade da detecção.

Nas análises por EELS, assume-se que o sinal capturado é provocado principalmente por elétrons de espalhamento único, mas isso só é válido para amostras muito finas. Em regiões espessas, o espalhamento múltiplo diminui a sensibilidade e pode induzir a erros de interpretação dos resultados.

Na preparação de amostras para análise por EELS, a espessura da cobertura de carbono a ser aplicada no material deve ser elevada, pois em regiões de cobertura espessa a sensibilidade da detecção é amplificada pelo fenômeno de espalhamento único.

Na preparação de amostras para análise por EELS, um parâmetro que deve ser levado em consideração é a concentração de ferritina cationizada utilizada nessa preparação. Concentrações abaixo de 1,5 mol/L devem ser evitadas por não possibilitarem o espalhamento único dos elétrons, o que compromete a sensibilidade da técnica.

Na preparação de amostras para análise por EELS, a espessura da cobertura de platina aplicada sobre a amostra deve ser cuidadosamente controlada, pois coberturas espessas amplificam os sinais gerados pela interação entre os elétrons do feixe e os elétrons da amostra, o que aumenta a sensibilidade de detecção.