Analise as afirmativas a seguir sobre o microscópio eletrônico de varredura.

I. A topografia da amostra e o ângulo no qual o feixe de elétrons a atinge interferem no contraste de imagens geradas por elétrons secundários.

II. A fonte de elétrons termiônica gera feixe de elétrons mais coerente e com maior brilho do que o canhão de elétrons de emissão de campo (FEG – “Field Emission Gun”).

III. Diferenças no número atômico da amostra interferem na detecção de elétrons retroespalhados.

IV. As lentes eletromagnéticas do MEV controlam o diâmetro do feixe de elétrons.

Está(ão) correta(s) a(s) afirmativa(s)